非接觸式雷達物位計：
 原理：發(fā)射到儲罐的微波信號從物料表面反射回來，通過測量信號發(fā)生到接收的時間或頻率差值，得出物料的物位高度。
 適用于腐蝕性強，無菌等惡劣過程工況；
 適用于不同過程條件下的儲罐，反應釜和過程罐；
 適用于精度要求很高的計量場合。
 優(yōu)勢：對液體、顆粒及漿料連續(xù)物位測量。雷達物位計的測量不受介質(zhì)、溫度、惰性氣體、蒸汽、粉塵、泡沫等的影響，適用于爆炸危險區(qū)域。
 應用：不與介質(zhì)直接接觸，安裝方便。測量固體物量時不必考慮物料對天線的影響。能滿足復雜工況的要求。例如：強粉塵、泡沫、結露、結晶等特殊環(huán)境。

   接觸式雷達物位計：
 原理：沿導波桿向下引導微波脈沖到達物料后，部分信號被反射回來，通過測量信號發(fā)射到接收的時間差得出物位。
 適用于小量程儲罐，幾何形狀和內(nèi)部有障礙物的復雜儲罐。
 適用于帶有蒸汽，附著物，起泡，冷凝水的應用場合。
 優(yōu)勢：在一些特殊工況導波雷達有明顯的優(yōu)勢如：罐內(nèi)有攪拌，介質(zhì)波動大，這樣的工況用底部固定的導波雷達測量值要比變通雷達穩(wěn)定;還有小罐體內(nèi)的物位測量，由于安裝測量空間小(或罐內(nèi)干擾物較多)，一般普通雷達不適用，這時導波雷達的優(yōu)勢就顯現(xiàn)出來了;再有是低介電常數(shù)的工況，無論雷達還是導波雷達測量原理都是基于介質(zhì)介電常數(shù)差別，由于普通雷達的發(fā)射的波是發(fā)散的，當介質(zhì)介電常數(shù)過低時，信號太弱測量不穩(wěn)定，而導波雷達波是沿導波桿傳播信號相對穩(wěn)定，另外一般的導波雷達還有底部探測功能，可以根據(jù)底部回波信號能測量值加以修正，使信號更為穩(wěn)定準確。
 用途：應用于水液儲罐、酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、小型儲油罐。如：煤倉、灰倉、油罐、酸罐等。

 

江蘇萬德儀表